Obálka

Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2020 Padua, Italy, January 21-22, 2021 : proceedings

Podrobná bibliografie
Další autoři: Torsello, Andrea, 1973- (Editor), Rossi, Luca (Editor), Pelillo, Marcello (Editor), Biggio, Battista (Editor), Robles-Kelly, Antonio (Editor)
Typ dokumentu: Kniha
Jazyk:angličtina
ISBN:978-3-030-73972-0
ISSN:0302-9743 ;
Rok: Cham : Springer, [2021]
Edice:Lecture notes in computer science
Témata:
rozpoznávání vzorů
zpracování dat
hluboké učení
umělá inteligence
pattern recognition
data processing
deep learning
artificial intelligence